透反射偏光顯微鏡能夠實現光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。 *EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
使用UIS2無限遠校正光學系統和*特的光學設計組合的奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡在偏光應用時提供了*越的性能。可擴展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關領域中的觀察和測量應用。
UIS2光學元件提供了出色的可擴展性
透反射偏光顯微鏡無限遠校正的優勢UIS2光學系統防止了光學顯微鏡性能的降低，消除了對顯微鏡光學放大倍數的影響，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統靈活性的同時，BX53-P也兼容BX3系列系統顯微鏡的中間附件，以及相機和成像系統。
石英閃長巖中斜長石的帶狀結構。*標尺顯示樣本的實際大小
MBBA光學結構 *標尺顯示標本的實際大小
偏光特性的升級
ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設計和生產技術與顯微鏡完*結合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片，提供了無y倫b的圖像對比度。為滿足研究和應用的多樣化要求，萬n型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設計，包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。
* EF（衰減系數）是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。
種類多樣的補償器
奧林巴斯BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器，能夠測量多種水平延遲，范圍從0到20λ。為使測量更容易，還提供了直接讀數法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得更高的圖像對比度，以改變整個視野里的延遲水平。
* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。
正交鏡和錐光鏡成像中的銳利圖像
使用U-CPA錐光鏡觀察附件后，正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準確。勃氏透鏡視場光闌的使用使其可以持續獲取銳利而清晰的錐光圖像。
1. U-CPA,2. U-P4RE, 3. U-AN360P-2, 4. U-OPA, 5. U-POC-2
堅固而*確的旋轉載物臺
奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P旋轉載物臺安裝的旋轉對中裝置能夠順暢地旋轉標本。此外，為了實施*確測量，每隔45度就有一個咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺，還可以進一步完成X-Y的微小移動。
旋轉載物臺
雙層機械載物臺
技術參數表
| 觀察方法 | 明場 | ? | |
|---|---|---|---|
| 偏光 | ? | ||
| 簡易偏光 | ? | ||
| 聚焦 | 聚焦機制 | 載物臺聚焦 | ? |
| 載物臺 | 機械式 | 精密可旋轉式載物臺 |
|
| 聚光鏡 | 手動 | 偏光聚光鏡 | NA 0.9 / WD 1.3毫米（載玻片1.5毫米）（4X-100X） |
| 觀察筒 | 寬視場(FN 22) | 三目觀察筒 | ? |
| 傾斜式三目觀察筒 | ? | ||
| 尺寸（寬×深×高） | 274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm | ||
| 重量 | 16 kg |
奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡尺寸圖
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